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中文摘要: 软件成熟能力模型ＣＭＭ注重开发能力的提高。ＣＭＭ营造的开发环境有利于开发早期缺陷的排除和过程的预测。在ＣＭＭ模型中描述了缺陷排除关键过程域。应用缺陷排除率ＤＲＥ以及过程测评指标ＣＰＩ、ＳＰＩ能进一步证明应用ＣＭＭ的重要作用。
中文关键词: CMM 缺陷排除率 预测性
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文章编号： 中图分类号： 文献标志码：
基金项目:
| Author Name | Affiliation |
| 马慧 | 首都经贸大学信息学院 100000 |
| 杨一平 | 首都经贸大学信息学院 100000 |
| Author Name | Affiliation |
| 马慧 | 首都经贸大学信息学院 100000 |
| 杨一平 | 首都经贸大学信息学院 100000 |
引用文本：
马慧,杨一平.软件成熟能力模型实现缺陷排除率的提高及过程的预测.计算机系统应用,2001,10(10):66-68
..COMPUTER SYSTEMS APPLICATIONS,2001,10(10):66-68
马慧,杨一平.软件成熟能力模型实现缺陷排除率的提高及过程的预测.计算机系统应用,2001,10(10):66-68
..COMPUTER SYSTEMS APPLICATIONS,2001,10(10):66-68
