量子芯片测评技术综述
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国家超算郑州中心创新生态系统建设专项(201400210200)


Overview on Quantum Chip Evaluation Technology
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    摘要:

    在研制量子芯片时对其性能进行测评, 以校准量子算法实际执行结果与理论结果的拟合程度是量子计算优于经典计算的重要一步. 然而, 目前国内外对量子芯片性能测评方面并没有统一的基准测试, 对于量子芯片局部指标的测评标准容易导致人们对芯片整体性能的误解. 鉴于此, 本文首先简述现有的量子芯片性能指标, 其次通过对测评方法进行分类, 概述现今量子芯片测评方法, 最后总结量子芯片测评技术的现存问题并对未来的测评技术进行展望. 本综述可为从事相关工作的人员进行查阅提供便利.

    Abstract:

    It is an important step for quantum computing to outperform classical computing by evaluating quantum chips’ performance during their development to calibrate the degree of fit between the actual execution results and theoretical results of quantum algorithms. However, at present, there is no unified benchmark for evaluating the performance of quantum chips both in China and abroad, and the evaluation standards for local indicators of quantum chips can easily lead to misunderstandings about the overall performance of the chips. In view of this, this study first briefly describes performance indicators of existing quantum chips, then reviews current quantum chip evaluation methods by classifying evaluation technologies, and finally summarizes the existing problems of quantum chip evaluation technologies and looks forward to the future evaluation technology. In addition, the review can be easily sourced by those working in the relevant fields.

    参考文献
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    引证文献
引用本文

何明,刘晓楠,王俊超.量子芯片测评技术综述.计算机系统应用,2022,31(12):1-9

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  • 收稿日期:2022-03-15
  • 最后修改日期:2022-04-19
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  • 在线发布日期: 2022-08-26
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