LabVIEW的电子设备故障检测系统
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Fault Detection System for Electronic Equipment Based on LabVIEW
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    结合测试系统理论和虚拟仪器技术的研究,提出了以PXI 检测设备为核心的LabVIEW8.5 的专用综合测试系统。系统以LabVIEW 为软件开发平台,用图形化程序语言设计了系统对电子设备测试的各个模块程序流程图以及源代码。该测试系统可以有效地缩短维修周期,降低维护成本,提高维护的可靠性,使电子设备故障系统的检测水平实现数字化、模块化和智能化。

    Abstract:

    Based on current test system theory and the virtual instrument technology research in this paper, establishing a detecting system as the PXI core based on the comprehensive testing system for LabVIEW8.5. Based on LabVIEW for the software platform in this system, with graphical program language designed for electronic equipment system detecting modules and the source program flowchart. This detecting system can reduce maintenance cycle effectively, reduce maintenance costs and improve reliability, system maintenance level of electronic equipment to achieve digital, modularization and intelligent .

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

马亮,李云涛,杨雪峰. LabVIEW的电子设备故障检测系统.计算机系统应用,2012,21(8):152-155

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2012-02-16
  • 最后修改日期:2012-03-09
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码
您是第位访问者
版权所有:中国科学院软件研究所 京ICP备05046678号-3
地址:北京海淀区中关村南四街4号 中科院软件园区 7号楼305房间,邮政编码:100190
电话:010-62661041 传真: Email:csa (a) iscas.ac.cn
技术支持:北京勤云科技发展有限公司

京公网安备 11040202500063号